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產品簡介
北崎供應TOPCON拓普康近紅外光譜儀SR-NIR近年來，對近紅外區(qū)域測量的需求不斷增加，特別是在顯示器和照明市場。此外，沒有任何測量儀器可以輕松準確地測量這一點。
北崎供應TOPCON拓普康近紅外光譜儀SR-NIR
北崎供應TOPCON拓普康近紅外光譜儀SR-NIR
在這種情況下，我們在SR系列分光輻射度計的技術基礎上開發(fā)了“近紅外分光輻射度計SR-NIR"。
通過將該產品與SR系列光譜輻射計結合使用，現(xiàn)在可以測量380nm至1030nm的光譜輻射亮度。
e 能夠測量 FPD 微弱發(fā)射的近紅外區(qū)域
e 高精度測量近紅外區(qū)域（600 至 1030 nm）的光譜分布 e
與我們的分光輻射度計 SR 系列結合使用時，可從可見光到近紅外區(qū)域測量外部光譜分布（380-1030nm）
觀測各種FPD的近紅外輸出
e 觀測Ne和Ar的發(fā)射線輸出
e 評估光學薄膜等的近紅外傳輸特性 e
其它光源的近紅外光譜測量
| 光電探測器 | 電子冷卻線性陣列傳感器 |
|---|---|
| 波長色散元件 | 衍射光柵 |
| 光學系統(tǒng) | 物鏡：f=82mm F2.5，目鏡：觀察視場5° |
| 測量角度 | 2°/1°/0.2°/0.1° 電動切換型 |
| 最小測量直徑（mmφ） | 2°: 10.0, 1°: 4.99, 0.2°: 1.00, 0.1°: 0.50 |
| 測量距離 | 350mm~∞（距物鏡硬件的距離） |
| 測量波長范圍 | 600～1030nm |
| 光譜波長寬度 | 6-8nm（半寬） |
| 波長分辨率 | 1納米 |
| 測量模式 | 自動/手動（存儲時間/頻率）、外部垂直同步信號輸入 |
| 測量細節(jié) | 光譜輻射亮度：W?sr -1?m -2?nm -1 |
| 測量范圍（*1） | 2°：0.5～3,000 cd/m 2 1°：1～9,000 cd/m 2 0.2°：20～70,000 cd/m 2 0.1°：100～300,000 cd/m 2 |
| 重復性(*2) | ±2%以內 |
| 偏振特性 | 光譜輻射率5%以下 |
| 校準標準 | 我們的校準標準 *標準 A 光，23℃±3℃，65% RH 以下 |
| 測量時間（*3） | 約 1 至 31 秒 |
| 界面 | RS-232C、USB 2.0 |
| 電源 | 專用交流適配器AC100~240V (50/60Hz) |
| 功耗 | 約36W |
| 使用條款 | 溫度：5～35℃，濕度：80%RH以下，無凝結 |
| 外形尺寸（寬×深×高） | 150×406×239毫米 |
| 大量的 | 約5.5公斤 |
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